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各学院、各有关单位：
测试中心将举办“X-射线光电子能谱仪在材料表面成分分析技术应用”交流会，欢迎有兴趣的老师同学们参加。
讲座题目：PHI材料表面成分分析技术（XPS AES和TOF-SIMS）应用
主讲人：鲁德凤（ULVAC-PHI中国技术支持专家）
会议时间：2017年9月22日（周五）上午9:00
会议地点：阳光科技大厦二层南209（测试中心培训室）
详情见附件：
附件：XPS在表面成分分析技术应用海报
福州大学测试中心
2017年9月19日
